Проведено экспериментальное исследование спектральной селективности отражательных решеток показателя преломления в кристалле BaTiO[3]:Сo. Предложена методика измерения спектральной селективности толстых отражательных голограмм, позволяющая производить прямое измерение спектральной селективности решетки с помощью считывающего лазера, перестраиваемого по длине волны. Получено хорошее согласие расчета с результатами измерений.