Название:
|
Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. –
|
Авторы:
|
Лашкова Наталья Алексеевна;
Пермяков Никита Вадимович;
Максимов Александр Иванович;
Спивак Юлия Михайловна;
Мошников Вячеслав Алексеевич
|
Организация:
|
Министерство образования и науки Российской Федерации
|
Выходные сведения:
|
Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015
|
Коллекция:
|
Общая коллекция
|
Тематика:
|
Полупроводники;
Наноструктурные материалы;
Микроскопия
|
УДК:
|
537.311.33(045);
620.22-022.53(045)
|
Тип документа:
|
Статья, доклад
|
Тип файла:
|
PDF
|
Язык:
|
Русский
|
DOI:
|
10.5862/JPM.213.3
|
Права доступа:
|
Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
|
Ключ записи:
|
RU\SPSTU\edoc\26400
|