Детальная информация

Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] = Local analysis of semiconductor nanoobjects by scanning tunneling atomic force microscopy / Н.А. Лашкова, Н.В. Пермяков, А.И. Максимов и др. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 532 Кб) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics. Сер.: Физико-математические науки: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург, 2015. – № 1 (213). — (Физика конденсированного состояния). — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/5448.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.213.3>.

Дата создания записи: 30.04.2015

Тематика: Полупроводники; Наноструктурные материалы; Микроскопия

УДК: 537.311.33(045); 620.22-022.53(045)

Коллекции: Общая коллекция

Ссылки: DOI

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (0,5 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования документа

stat Количество обращений: 387
За последние 30 дней: 1
Подробная статистика