Детальная информация

Название: Сканирующая туннельная микроскопия графена на микростуктурированной подложке: дипломная работа: 210104
Авторы: Глинских Алексей Андреевич
Научный руководитель: Рыков Сергей Александрович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2016
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: графен; туннельная микроскопия; оптоэлектроника; graphene; tunneling microscopy; optoelectronics
Тип документа: Выпускная квалификационная работа специалиста
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Специалитет
Код специальности ОКСО: 210104
Группа специальностей ОКСО: 210000 - Электронная техника, радиотехника и связь
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v16-1124
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\33282

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Работа посвящена исследованию особенностей топографии поверхности и локального энергетического спектра четырехслойного графена, помещенного на двумерную матрицу из пирамид GaN, с помощью сканирующей туннельной спектроскопии и локальной туннельной спектроскопии. Такая структура моделирует использование графена в качестве проводящего прозрачного электрода в оптоэлектронике. Обнаружено провисание графена между соседними пирамидами, сделана оценка этого провисания - около 20% от высоты пирамид 1.1 мкм. Локальные туннельные спектры показывают изменение энергетического спектра графена из-за механических напряжений, появляющихся при провисании. Подтверждена перспективность использования графена в качестве электродов.

Features of the surface topography and the local energy spectrum of graphene placed on two-dimensional array of GaN pyramids are studied using scanning tunneling microscopy and local tunneling spectroscopy. This structure can be used as a test structure for using grapheme for a conducting transparent electrode in optoelectronics. The whipping of grapheme between pyramids is found and estimation of whipping value is made - about 20% from the pyramid height 1.1 μm. Local energy spectra show the change of grapheme energy spectrum due to mechanical stress at the whipping. Possibility of using grapheme as electrode is confirmed.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 1094
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика