Детальная информация

Осипов, Василий Сергеевич. Моделирование процесса переноса заряда в наноуглеродных пленках [Электронный ресурс]: бакалаврская работа: 16.03.01 / В. С. Осипов; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. А. В. Архипов. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,08 МБ). — Санкт-Петербург, 2016. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/v16-2759.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v16-2759>.

Дата создания записи: 15.12.2016

Тематика: полевая эмиссия электронов; низковольтная автоэлектронная эмиссия; двухбарьерная модель эмиссии; наноуглеродные материалы; компьютерное моделирование; field emission of electrons; low-voltage field emission; double-barrier model of the emission; nanocarbon materials; computer modeling

Коллекции: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция

Ссылки: DOI

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,1 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Проводится численное 3d моделирование переноса электрического заряда и низковольтной электронной эмиссии в наноразмерной системе, включающей в себя кремниевую подложку с неоднородным распределением легирующей примеси и островковое углеродное покрытие. Используется метод конечных элементов и среда моделирования COMSOL.

Charge transport and low-field electron emission prosesses has been investigated using numerical 3d modeling in nanoscale system consisting of nano-islands on silicon substrate with nonuniform dopant distribution. The computer simulations were performed by the finite element method in COMSOL Multiphysics.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования документа

stat Количество обращений: 325
За последние 30 дней: 1
Подробная статистика