Details

Петрухно, Константин Алексеевич. Исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных пленок методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии [Электронный ресурс]: бакалаврская работа: 16.03.01 / К. А. Петрухно; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. П. Г. Габдуллин. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,05 МБ). — Санкт-Петербург, 2016. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/v16-2760.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v16-2760>.

Record create date: 12/16/2016

Subject: полевая эмиссия ; тонкие пленки углерода; сканирующая туннельная микроскопия; туннельная спектроскопия; фотопроводимость; field emission ; a thin film of carbon; scanning tunneling microscopy; tunneling spectroscopy; photoconductivity

Collections: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция

Links: DOI

Allowed Actions: Read Download (1.1 Mb) You need Flash Player to read document

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Было проведено исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных плёнок, выращенных на подложках монокристаллического кремния методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии. Показана различная реакция областей на внешнее облучение.

Emission-active thin carbon films grown at monocrystalline silicon substrates were studied by the methods of scanning tunneling microscopy and tunneling spectroscopy. Spatial non-uniformity of photoirradiation effect onto electric properties has been detected.

Document access rights

Network User group Action
FL SPbPU Local Network All Read Print Download
-> Internet All Read Print Download

Document usage statistics

stat Document access count: 320
Last 30 days: 11
Detailed usage statistics