В процессе работы были проанализированы последние данные о тонких пленках, их электрофизических свойствах и причинах отличий от массивных образцов. Получены и исследованы многослойные наноструктуры Cu/Cr с разными толщинами меди и хрома на разных подложках. Построены зависимости электрического сопротивления от температуры для многослойных пленок, и определены температурные коэффициенты сопротивления для этих пленок. Построена зависимость сопротивления от прикладываемого на пленку давления. Определен барический коэффициент сопротивления.