Работа посвящена теории спектрографических систем на базе электростатических полей. Выделено два класса потенциальных структур, в которых реализуется режим спектрографа. Используя аналитические методы и новые оригинальные математические подходы, синтезируются варианты спектрографических систем для анализа пучков заряженных частиц различной геометрии, имеющее практическое приложение в электронной спектроскопии и масс-спектрометрии.