Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] = Local analysis of semiconductor nanoobjects by scanning tunneling atomic force microscopy / Н.А. Лашкова, Н.В. Пермяков, А.И. Максимов и др. — (Физика конденсированного состояния). — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 532 Кб) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2015. – Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/5448.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.213.3>.
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
Yesterday
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
Last 30 days
|
0
|
0
|
3
|
0
|
3
|
Last 365 days
|
12
|
0
|
42
|
0
|
54
|
All time
|
283
|
0
|
352
|
0
|
635
|