Детальная информация

Название: Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. – № 1 (213)
Авторы: Лашкова Наталья Алексеевна; Пермяков Никита Вадимович; Максимов Александр Иванович; Спивак Юлия Михайловна; Мошников Вячеслав Алексеевич
Организация: Министерство образования и науки Российской Федерации
Выходные сведения: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015
Коллекция: Общая коллекция
Тематика: Полупроводники; Наноструктурные материалы; Микроскопия
УДК: 537.311.33(045); 620.22-022.53(045)
Тип документа: Статья, доклад
Тип файла: PDF
Язык: Русский
DOI: 10.5862/JPM.213.3
Права доступа: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (0,5 Мб)

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования

stat Количество обращений: 437
За последние 30 дней: 5
Подробная статистика