Детальная информация

Название: Сравнение методов оценки степени когерентности излучения полупроводниковых лазеров по картинам интерференции: магистерская диссертация
Авторы: Харисов Рустам Ильясович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2015
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: Генераторы квантовые полупроводниковые; Лазерное излучение; Интерферометры
УДК: 621.373.826:535.4(043.3)
Тип документа: Другой
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\27109

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В работе сравнивается классический метод определения длины когерентности лазера по контрасту полос, и спекл-метод, использующий числа Эйлера. Эксперимент проведён на интерферометре Майкельсона с переменной оптической разностью хода в несколько сантиметров с двумя полупроводниковыми лазерами. Результаты указывают на справедливость и перспективность нового метода.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 856
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика