Методы и средства метрологического обеспечения цифровых двойников // Системный анализ в проектировании и управлении: сборник научных трудов XXVI Международной научно-практической конференции, 13–14 октября 2022 года: [в 3 частях]. Ч. 2

Информация о документе
 
Full screen