Детальная информация

Настоящее учебное пособие посвящено использованию метода рентгеноструктурного анализа для исследования кристаллических материалов. Включает в себя объяснение физических основ метода, описание существующей аппаратуры и основных используемых методик, а также элементы кристаллографии, необходимые для понимания материала. Соответствует рабочей программе дисциплины «Инженерный практикум по рентгеновским методам». Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры направления 15.04.03_06 «Физика прочности и пластичности материалов» очной формы обучения.

This training manual is devoted to using the method of X-ray structural analysis for the study of crystalline materials. It includes the explanation of the physical method essentials, a description of the existing equipment and the main techniques used, as well as the elements of crystallography necessary for understanding the material. The manual corresponds to the working program of the discipline “Engineering practical notes on X-ray methods”. The training manual is intended for students of the Master's major 15.04.03_06 “Physics of strength and plasticity of materials” for students of the full-time mode of study.

• ОГЛАВЛЕНИЕ
• ВВЕДЕНИЕ
• Г л а в а 1. ЭЛЕМЕНТЫ КРИСТАЛЛОГРАФИИ
• 1.1. Кристаллическая решетка и кристаллическая структура
• 1.2. Элементы линейной алгебры
• 1.3. Основные формулы и понятия геометрической кристаллографии
• 1.4. Соотношение прямой и обратной решеток
• 1.5. Стереографическая проекция
• Г л а в а 2. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКЕ
• 2.1. Дифракция и ее виды
• 2.2. Упрощенные модели дифракции
• 2.3. Процедура Эвальда. Сфера Эвальда
• 2.4. Элементы теории дифракции
• Г л а в а . 3ПРИРОДА И ИСТОЧНИКИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
• 3.1. Тормозное рентгеновское излучение
• 3.2. Характеристическое рентгеновское излучение
• Г л а в а 4. АППАРАТУРА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
• 4.1. Общие замечания
• 4.2. Источники рентгеновского излучения
• 4.3. Детекторы рентгеновского излучения
• 4.4. Гониометры
• 4.5. Рентгенооптические элементы
• Г л а в а 5. ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ
• 5.1. Качественный фазовый анализ
• 5.2. Количественный фазовый анализ
• Г л а в а 6. АНАЛИЗ ИСКАЖЕНИЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ
• 6.1. Связь РСА и напряжений
• 6.2. Измерения макронапряжений. Sin2ψ-метод
• 6.3. Измерения микронапряжений
• 6.4. Выбор угла дифракции при измерении напряжений
• Г л а в а 7. АНАЛИЗ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ТЕКСТУР
• 7.1. Определение текстуры
• 7.2. Классификация текстур
• 7.3. Описание текстур
• 7.4. Экспериментальный анализ текстур
• БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК