Details

Title: Исследование импульсной электрической прочности современных чип-конденсаторов. 1. Основные экспериментальные результаты // Научно-технические ведомости СПбПУ. Сер.: Естественные и инженерные науки. – 2018 Т. 24, № 1
Creators: Плотников Андрей Павлович; Емельянов Олег Анатольевич; Белько Виктор Олегович; Курьяков Роман Андреевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого; АО "НИИ "Гириконд"
Imprint: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2018
Collection: Общая коллекция
Subjects: Энергетика; Конденсаторы; чип-конденсаторы; электрическая прочность; импульсная прочность; грозовые импульсы; электромагнитная совместимость; отказы конденсаторов; конденсаторное напряжение; chip capacitors; dielectric strength; impulse strength; lightning impulses; electromagnetic compatibility; capacitor failures; capacitor voltage
UDC: 621.319.4
LBC: 31.264.6
Document type: Article, report
Language: Russian
DOI: 10.18721/JEST.240105
Rights: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions: Read Download (1.6 Mb)

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Разработаны установки для определения импульсной электрической прочности чип-конденсаторов и напряжения их пробоя под воздействием грозовых импульсов. Экспериментально получены функции распределения указанных характеристик, обнаружено что они соответствуют нормальному закону. Получены осциллограммы тока и напряжения на конденсаторах, а также зависимость емкости и тангенса угла потерь от амплитудного напряжения испытательного импульса. Выполнен анализ отказов испытанных конденсаторов. Выделены основные возможные причины отказа чип-конденсаторов, представлены предварительные оценки по каждой из потенциальных причин отказа.

The goal of the paper is testing the short-pulse dielectric strength of chip capacitors and lightning impulse testing with subsequent failure analysis. The experimental setups are developed in order to determine the short-pulse dielectric strength and lightning impulse withstand voltage. The distribution functions of these characteristics have been found to follow the normal distribution. The oscillograms of current and voltage across the capacitors are presented, as well as the dependence of the capacitance and dissipation factor on the testing impulse voltage magnitude. A brief failure analysis is carried out. The main failure mechanisms are highlighted.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
-> Internet All Read Print Download

Usage statistics

stat Access count: 98
Last 30 days: 11
Detailed usage statistics