| Таблица | Карточка | RUSMARC | |
|
|
Разрешенные действия: –
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа: Анонимные пользователи Сеть: Интернет |
Аннотация
Лабораторный практикум направлен на формирование у студентов навыков работы на современном измерительном оборудовании, используемом для контроля характеристик и параметров нано- и микроразмерных структур и материалов интегральной электроники. В него включены 11 лабораторных работ, знакомящих студентов с основными методами исследования диэлектрических, оптических и теплофизических характеристик материалов, широко используемых в приборах и устройствах твердотельной электроники.Предназначено для студентов, обучающихся по направлению бакалавриата «Техническая физика» с профилем подготовки «Физическая электроника». Также может быть использовано студентами, обучающимися по направлению бакалавриата «Интегральная электроника и наноэлектроника», в системах повышения квалификации и в учреждениях дополнительного профессионального образования.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
Права на использование объекта хранения
| Место доступа | Группа пользователей | Действие | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
||||
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
||||
|
Интернет | Анонимные пользователи |
Оглавление
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- Введение
- 1. Методы измерения диэлектрических характеристик
- 2. Методы измерения электрических характеристик
- 3. Методы измерения теплофизических характеристик
- 4. Оптические методы измерения
- Библиографический список
- Приложения
Статистика использования
|
|
Количество обращений: 28
За последние 30 дней: 1 Подробная статистика |