Детальная информация
| Название | Материалы электронной техники. Экспериментальные методы исследования. Лабораторный практикум: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров «Техническая физика» |
|---|---|
| Авторы | Капралова Виктория Маратовна ; Поликарпов Юрий Иванович ; Прошин Владимир Иванович ; Сударь Николай Тобисович ; Тухватуллин Алим Шайхисламович |
| Другие авторы | Коротков Александр Станиславович |
| Организация | Санкт-Петербургский государственный политехнический университет |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2011 |
| Электронная публикация | Санкт-Петербург, 2020 |
| Коллекция | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Тематика | Электротехнические материалы ; Электроника твердотельная ; Электроника физическая |
| УДК | 621.317.3(075.8) ; 621.382(075.8) |
| Тип документа | Учебник |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Код специальности ФГОС | 16.00.00 |
| Группа специальностей ФГОС | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/si20-1354 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\64160 |
| Дата создания записи | 25.11.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Лабораторный практикум направлен на формирование у студентов навыков работы на современном измерительном оборудовании, используемом для контроля характеристик и параметров нано- и микроразмерных структур и материалов интегральной электроники. В него включены 11 лабораторных работ, знакомящих студентов с основными методами исследования диэлектрических, оптических и теплофизических характеристик материалов, широко используемых в приборах и устройствах твердотельной электроники.Предназначено для студентов, обучающихся по направлению бакалавриата «Техническая физика» с профилем подготовки «Физическая электроника». Также может быть использовано студентами, обучающимися по направлению бакалавриата «Интегральная электроника и наноэлектроника», в системах повышения квалификации и в учреждениях дополнительного профессионального образования.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- Введение
- 1. Методы измерения диэлектрических характеристик
- 2. Методы измерения электрических характеристик
- 3. Методы измерения теплофизических характеристик
- 4. Оптические методы измерения
- Библиографический список
- Приложения
Количество обращений: 39
За последние 30 дней: 0
