Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
Document access rights
Network | User group | Action | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All | |||||
Internet | Authorized users SPbPU | |||||
Internet | Anonymous |
Table of Contents
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- Введение
- 1. Основы стандартизации
- 2. Основы сертификации
- 3. Основы метрологии
- 4. Полупроводниковые материалы
- 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
- 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
- Библиографический список
- Приложения
Usage statistics
Access count: 290
Last 30 days: 57 Detailed usage statistics |