Details

Title: Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие
Creators: Радчук Наталия Борисовна; Ушаков Александр Юрьевич
Organization: Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Imprint: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013
Electronic publication: Санкт-Петербург, 2020
Collection: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Subjects: Полупроводники — Параметры — Измерение; Стандартизация; Метрология
UDC: 621.382.08(075.8); 006.9(075.8)
Document type: Tutorial
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 11.00.00
Speciality group (FGOS): 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI: 10.18720/SPBPU/2/si20-285
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\62880

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
External organizations N2 All Read
External organizations N1 All Read
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
Internet Authorized users (not from SPbPU) Read
-> Internet Anonymous

Table of Contents

  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • Введение
  • 1. Основы стандартизации
  • 2. Основы сертификации
  • 3. Основы метрологии
  • 4. Полупроводниковые материалы
  • 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
  • 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
  • Библиографический список
  • Приложения

Usage statistics

stat Access count: 121
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics