Статистика использования

Радчук, Наталия Борисовна. Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие / Н. Б. Радчук, А. Ю. Ушаков; Санкт-Петербургский государственный политехнический университет. — Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013 (Санкт-Петербург, 2020). — 1 файл (4,77 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Цифровая копия печатной публикации 2013 г. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/si20-285.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-285. — Текст: электронный

stat
Период Чтение Печать Копирование Открытие Итого
Вчера 0 0 0 0 0
Последние 30 дней 0 0 0 0 0
Последние 365 дней 17 0 71 0 88
За все время 29 0 92 0 121