| Table | Card | RUSMARC | |
|
|
Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
Рассмотрены вопросы, связанные с исследованием физико-химических свойств приповерхностной области твердых тел методами вторично-электронной спектроскопии. Проанализированы физические основы вторично-электронной спектроскопии с угловым разрешением и возможности извлечения информации об энергетическом строении приповерхностной области твердых тел этим методом. Представлены современные методы низкоэнергетической вторично-электронной спектроскопии; рассмотрены основные направления их использования. Приведены сведения о спектроскопии спин-поляризованных электронов; кратко рассмотрены источники и детекторы поляризованных электронов, основные виды информации о поверхности и процессах эмиссии и рассеяния электронов, получаемые с помощью этой спектроскопии. Пособие предназначено для студентов специальности «Физическая электроника», а также может быть полезно студентам, аспирантам и инженерам близких специальностей.
Document access rights
| Network | User group | Action | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
||||
| Internet | Authorized users SPbPU |
|
||||
|
Internet | Anonymous |
Table of Contents
- С О Д Е Р Ж А Н И Е
- Введение
- Г л а в а 1. Вторично-электронная спектроскопия с угловым разрешением
- Г л а в а 2. Низкоэнергетическая вторично-электронная спектроскопия
- Г л а в а 3. Спектроскопия спин-поляризованных электронов
- Литература
Usage statistics
|
|
Access count: 8
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |