Пособие соответствует государственному образовательному стандарту по направлениям подготовки бакалавров «Техническая физика» и «Электроника и наноэлектроника». Изложены элемента теории погрешностей, общие принципы графического анализа экспериментальных зависимостей и оценки погрешностей такого анализа. Представлены возможности и продемонстрировано практическое использование компьютерной программы Origin для графического представления и аппроксимации экспериментальных зависимостей. Рассмотрен ряд задач из различных областей экспериментальной физики. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки «Техническая физика». Может быть использовано студентами, специализирующимися в различных областях экспериментальной физики, а также аспирантами, инженерами и научными работниками.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

• ОГЛАВЛЕНИЕ
• Введение
• 1. Теоретические основы анализа экспериментальных зависимостей
• 2. Аппроксимация экспериментальных зависимостей в программе Origin
• 3. Линеаризация и определение параметров неизвестной функциональной зависимости
• 4. Анализ зависимости энергии связи ионного кристалла от расстояния между ионами
• 5. Анализ оптических спектров с перекрывающимися полосами
• 6. Анализ температурной зависимости концентрации носителей заряда в полупроводниках
• Заключение
• Библиографический список