Детальная информация

Название Механизмы рассеяния носителей заряда в полупроводниках: учебное пособие
Авторы Воробьев Леонид Евгеньевич
Организация Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина
Выходные сведения Ленинград: ЛПИ, 1988
Электронная публикация Санкт-Петербург, 2020
Коллекция Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Тематика Полупроводники — Электрические свойства; Полупроводники — Электропроводность
УДК 537.311.322(075.8)
Тип документа Учебник
Тип файла PDF
Язык Русский
Код специальности ФГОС 03.00.00
Группа специальностей ФГОС 030000 - Физика и астрономия
DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-880
Права доступа Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\63575
Дата создания записи 21.10.2020

Разрешенные действия

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

В пособии о помощью теории возмущений определяются вероятность и время релаксации импульса для основных механизмов рассеяния электронов и дырок в полупроводниках: на акустических, пьезоэлектрических, деформационных и полярных оптических колебаниях решетки, при примесном, мекдолинном и электрон-электронном рассеянии и др. При этом учитывается экранирование дальнодействующего потенциала. Проводится сравнение с экспериментальными результатами. Предназначено для студентов специальностей "Физика твердого тела", "Физическая электроника", "Физика и технология материалов и компонентов электронной техники", "Микроэлектронные и полупроводниковые приборы", изучающих физику твердого тела, полупроводников, металлов, физические основы полупроводниковых приборов.

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Анонимные пользователи

Количество обращений: 54 
За последние 30 дней: 0

Подробная статистика