Пособие соответствует государственному образовательному стандарту подготовки по направлениям: 654100 «Электроника и микроэлектроника», 551900 «Оптотехника», 553100 «Техническая физика», по специальностям 014100 «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы», 200100 «Микроэлектроника и твердотельная электроника», 190700 «Оптикоэлектронные приборы и системы», 071400 «Физическая электроника». Пособие может быть использовано студентами других специальностей, изучающими физику твердого тела, микро- и наноэлектронику, а также аспирантами, совершенствующимися в перечисленных выше направлениях. Изложены основные сведения о симметрии идеальных кристаллов, описаны кристаллические системы и классы симметрии, рассмотрены понятия обратного пространства, обратной решетки и зон Бриллюэна. Приведены и описаны основные структурные типы, к которым относятся реальные кристаллы. Рассмотрено понятие энергии связи в кристаллах, кратко описаны основные механизмы межатомного и межмолекулярного взаимодействий, приводящие к образованию химических связей в кристаллах и, как следствие, стабильных кристаллических структур. Изложены основы описания дифракции волн в кристаллах и кратко охарактеризованы дифракционные методы исследования кристаллических структур. Описан математический аппарат кристаллофизики, включая сведения о тензорном исчислении и теории групп. В качестве примеров рассмотрены некоторые физические свойства кристаллов, описываемые тензорами различного ранга.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

• ОГЛАВЛЕНИЕ
• Введение
• Глава 1. Симметрия в кристаллах
• Глава 2. Кристаллохимия
• Глава 3. Структуры реальных кристаллов
• Глава 4. Дифракция как метод исследования кристаллической структуры
• Глава 5. Введение в кристаллофизику
• Приложение 1. Точечные группы
• Приложение 2. Кристаллохимические радиусы элементов
• Библиографический список