Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: –
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
Group: Anonymous Network: Internet |
Annotation
Пособие соответствует государственному образовательному стандарту дисциплины «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов» направления бакалаврской подготовки 554500 «Наноматериалы», подготовки дипломированных специалистов по специальности 073800 «Наноматериалы». Рассмотрены основы сканирующей зондовой микроскопии. Описаны различные типы приборов, а также методики, применяемые в СЗМ. Отдельной темой выделено рассмотрение различных способов модифицирования поверхности с помощью сканирующих зондовых микроскопов. Предназначено для студентов четвертого курса факультета технологии и исследования материалов, изучающих дисциплину «Методы и приборы для изучения, анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов» в рамках специальной подготовки.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
Document access rights
Network | User group | Action | ||||
---|---|---|---|---|---|---|
ILC SPbPU Local Network | All | |||||
Internet | Authorized users SPbPU | |||||
Internet | Anonymous |
Table of Contents
- СОДЕРЖАНИЕ
- ВВЕДЕНИЕ
- 1. ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ О СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПАХ
- 2. СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
- 3. АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
- 4. ПРАКТИЧЕСКОЕ ПРИМЕНЕНИЕ СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ ДЛЯ СОЗДАНИЯ НАНОСТРУКТУР
- ЗАКЛЮЧЕНИЕ
- СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
Usage statistics
Access count: 18
Last 30 days: 0 Detailed usage statistics |