Работа посвящена изучению физического механизма движения доменных стенок между 180° доменами в тонких пленках в температурном диапазоне от 4 К до 295 К. В работе был использован метод атомно-силовой микроскопии пьезоотклика для изучения процессов переключения поляризации в тонких пленках. Получены новые результаты по движению доменных стенок при низких температурах.

The work focuses at the study of the physical mechanism of the motion of the walls separating 180° domains in PZT thin films over the 4K-295K temperature range. The process of thin film polarization switching was investigated by the piezoresponse force microscopy technique. New data on domain wall dynamics at low temperatures were obtained.