Детальная информация

Название: Исследование электронной структуры поверхности тонкопленочных углеродных покрытий: магистерская диссертация: 16.04.01
Авторы: Журкин Алексей Михайлович
Научный руководитель: Габдуллин Павел Гарифович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2016
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: Пленки тонкие; Автоэлектронная эмиссия; углеродные пленки; углеродные квантовые точки; электронные структуры; carbon film; carbon quantum dots; electronic structure
УДК: 537.533.2(043.3); 539.23(043.3)
Тип документа: Выпускная квалификационная работа магистра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Магистратура
Код специальности ФГОС: 16.04.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v16-2772
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\36186

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Тонкоплёночные системы привлекают внимание исследователей своими необычными свойствами, которые могут отличаться от свойств объёмных материалов. Одной из таких систем являются углеродные пленки. В этой работе исследуется низковольтная полевая эмиссия с углеродных пленок, нанесённых на кремниевую подложку Si. Изучение энергетической структуры углеродных плёнок позволит дать объяснение данному явлению.

Thin-film systems attract researchers' interest by unusual properties that can be substantially different from volumetric properties of the materials. Thin carbon films represent an example of such a system. The thesis presents an investigation of low-field emission from carbon films deposited at silicon substrates. The acquired data on electronic structure of such films help to explain the nature of this phenomenon.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 448
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика