Детальная информация
| Название | Структурные особенности тонких пленок моносульфидов лантаноидов: магистерская диссертация: 22.04.01 |
|---|---|
| Авторы | Хавров Глеб Дмитриевич |
| Научный руководитель | Шаренкова Наталия Викторовна |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт металлургии, машиностроения и транспорта |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2016 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Тематика | Пленки тонкие ; Полупроводниковые пленки — Получение ; Металлизация ; Кристаллические решетки ; Лантаноиды ; редкоземельные полупроводники ; взрывное напыление ; когерентное рассеяние ; rare-earth semiconductors ; explosive plating ; coherent scattering |
| УДК | 539.216.2(043.3) ; 661.865.4(043.3) |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа магистра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Магистратура |
| Код специальности ФГОС | 22.04.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 220000 - Технологии материалов |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/v16-3041 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\36168 |
| Дата создания записи | 07.02.2017 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Исследована зависимость параметра кристаллической решетки SmS от температуры подложки, проведена оценка влияния технологических параметров и отжига на структурные особенности тонких пленок. Проведено сравнение зависимостей параметров кристаллических решеток и областей когерентного рассеяния от толщины напыляемых пленок LaS и SmS. Исследовано отклонение от закона Вегарда в тонких поликристаллических пленках состава Sm1-xLnxS, где Ln - Gd, Eu.
Dependence of SmS lattice parameter on substrate temperature was investigated, the estimation of influence of technological parameters and annealing on structural features of thin films was conducted. Comparison of dependences of lattice parameters and coherent scattering regions on the thickness LaS and SmS evaporated films was spent. The deviation from the Vegard's law in Sm1-xLnxS thin polycrystalline films, where Ln - Gd, Eu, was investigated.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 413
За последние 30 дней: 0
