С 17 марта 2020 г. для ресурсов (учебные, научные, материалы конференций, статьи из периодических изданий, авторефераты диссертаций, диссертации) ЭБ СПбПУ, обеспечивающих образовательный процесс, установлен особый режим использования. Обращаем внимание, что ВКР/НД не относятся к этой категории.

Details

Title: Моделирование процессов формирования высокоэнергичных частиц в плазме Пеннинговского разряда: бакалаврская работа: 03.03.02
Creators: Варшавчик Лидия Александровна
Scientific adviser: Буланин Виктор Викторович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2017
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: Магнитные ловушки для плазмы; Плазма (физ.) — Математическое моделирование; токамаки; чистка оптических элементов; Пеннинговский разряд; нейтрализация потока ионов
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 03.03.02
Speciality group (FGOS): 030000 - Физика и астрономия
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v17-2544
Rights: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Значительные размеры вакуумной камеры ИТЭР и большое расстояние от плазмы до границы вакуума предполагают наличие вкутрикамерных диагностических компонентов. Установленные в диверторной области токамака оптические элементы диагностик подвергаются интенсивному запылению продуктами эрозии первой стенки и материалов конструкций. Оценки скорости напыления показывают, что для обеспечения надежной работы оптики в течение разряда необходима непрерывная чистка. На данный момент для чистки загрязненной оптики предполагается использование высокочастотного разряда. Это объясняется тем, что технология ВЧ разряда хорошо разработана и широко применяется для травления в полупроводниковой промышленности. Однако технически более простым и, следовательно, более перспективным выглядит разряд постоянного тока, находящийся на концептуальной стадии и требующий моделирования и экспериментальной проверки. Для чистки диэлектрических поверхностей, чистящий разряд должен формировать потоки нейтральных частиц или нейтральной плазмы на обрабатываемую поверхность. Данная работа посвящена моделированию и оценке эффективности чистки пучком нейтральных частиц. Проделанная работа состоит из двух частей - моделирование Пеннинговского разряда и моделирование нейтрализатора ионных потоков. Для моделирования Пеннинговского разряда, рассматриваемого как источник ионов, был написан код, включающий решение аналитической системы уравнений с помощью пакета прикладных программ Matlab.

Моделирование процесса нейтрализации ионных потоков, основанного на эффекте резонансной перезарядки при прохождении пучка ионов через нейтральный газ осуществлялось в программе, основанной на статистическом методе Монте-Карло (на Fortran). В процессе проведенного исследования были получены зависимости эффективности чистки как от внешних факторов (магнитное поле, тип и давление газа), так и от задаваемых параметров (характеристики системы чистки). Таким образом, разработанные коды позволяют находить оптимальные значения параметров системы чистки. На основе проведенного моделирования можно сделать вывод, что чистка как металлических, так и диэлектрических пленочных загрязнений нейтральными атомами возможна, и данный метод является реальной альтернативой чистке высокочастотным разрядом. Для дальнейшей разработки метода чистки пленочных загрязнений нейтральными частицами необходима оптимизация системы очистки диэлектрических поверхностей и экспериментальные исследования.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 244
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics