Details

Title: Электронный парамагнитный резонанс в селениде ртути, легированном переходными металлами: выпускная квалификационная работа магистра: 11.04.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.04.04_01 - Микроэлектроника и наноэлектроника
Creators: Фролов Дмитрий Александрович
Scientific adviser: Захарова Ирина Борисовна; Вейнгер А. И.
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2018
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: Электронный парамагнитный резонанс; Ртуть, селенид; Магнитное поле; Металлы переходные
UDC: 537.635:537.611.43
Document type: Master graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 11.04.04
Speciality group (FGOS): 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Links: Отзыв руководителя; Рецензия
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v18-1820
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Целью данной работы является сравнительный анализ температурных и угловых зависимостей в спектрах электронного парамагнитного резонанса образцов HgSe:Fe, HgSe:CoиHgSe:Ni с различными концентрациями легирующей примеси. Были получены спектры электронного парамагнитного резонанса, значения энергии взаимодействия с полем кристаллической решётки и значенияg-фактора, выполнен анализ температурной зависимости амплитуды линий ЭПР и оценка времени диффузии носителей заряда через скин-слой. Сделаны выводы о степени ионизации примесных ионов.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
Internet Authorized users (not from SPbPU)
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 60
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics