Details

Title: Выращивание методом молекулярно-лучевой эпитаксии и структурная характеризация наноструктур CoFeB/Bi[2]Te[3]: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 – Физика
Creators: Жильцов Никита Сергеевич
Scientific adviser: Жуков Алексей Евгеньевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2018
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: молекулярно-лучевая эпитаксия; топологические изоляторы; спинтроника; дифракция быстрых электронов; атомно-силовая микроскопия
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Bachelor
Speciality code (FGOS): 03.03.02
Speciality group (FGOS): 030000 - Физика и астрономия
Links: Отзыв руководителя; Рецензия
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v18-5647
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\58169

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Основная задача данной работы – создание и изучение совершенного интерфейса ферромагнетик/топологический изолятор на основе пары материалов Co[40]Fe[40]B[20] (далее CoFeB) /Bi[2]Te[3]. Исследованные в данной работе наноструктуры создавались путём эпитаксиального роста CoFeB на подложках Bi[2]Te[3](0001). Основным результатом работы является получение монокристаллических плёнок ферромагнетика на топологическом изоляторе. Данные наработки планируется применить для дальнейшего детального изучения магнитных и электрофизических свойств интерфейса ферромагнетик/топологический изолятор.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 107
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics