Details

Title: Экспериментальное исследование диффузионного легирования монокристаллического кремния магнием: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Creators: Милентьев Артем Сергеевич
Scientific adviser: Фирсов Дмитрий Анатольевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: двойной донор; межузельный донор; диффузия; легирование; кремний; магний; double donor; interstitial donor; diffusion; doping; silicon; magnesium
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Level of education: Bachelor
Speciality code (FGOS): 11.03.04
Speciality group (FGOS): 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Links: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-1356
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: ru\spstu\vkr\1244

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

Проанализирована литература по исследованию Mg в Si. Апробирована технология диффузии с помощью «сэндвич» – метода Mg в Si по исследованию температурной зависимости концентрации свободных электронов (эффект Холла) в объемно-легированных образцах. Измерены пространственные распределения электрически активного магния в кремнии в образцах с односторонней диффузией. Из этих данных получены эффективные значения коэффициента диффузии магния в кремнии при температурах и при длительности диффузионного процесса 7.5 часов. Кратко обсуждаются основные особенности полученных данных.

The literature on the study of Mg in Si was analyzed. Diffusion technology Mg in Si with «sandwich» – method was approved by concentration of free electrons dependence on temperature (Hall effect) in doped bulk samples. Distribution of electrically active magnesium in silicon samples with oneside diffusion was researched. From these data was obtained the effective magnesium diffusion coefficient in silicon for diffusion temperatures and with a diffusion time of 7.5 hours. The principal features were discussed briefly from the data obtained.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 42
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics