Детальная информация

Название: Микроконтроллерное устройство для снятия вольт – амперных характеристик полупроводниковых структур в области малых токов: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Авторы: Броников Егор Витальевич
Научный руководитель: Груздев Александр Станиславович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2019
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: полупроводниквые структуры; тонкие пленки; измерение параметров полупроводниковых структур; микроконтроллерное устройство; semiconductor structures; thin films; measurement of parameters of semiconductor structures; microcontroller device
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 11.03.04
Группа специальностей ФГОС: 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Ссылки: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2443
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Тонкие пленки, методы измерения свойств тонких пленок, разработка устройства на базе микроконтроллера STM-32 для снятия вольт - амперных характеристики удельного электрического сопротивления тонких пленок. Была проанализирована литература по различным полупроводниковым структурам (пленкам). Рассмотрены различные контактные и бесконтактные методы измерения параметров пленок, из которых был выбран контактный двухзондовый метод. Было разработано и запрограммировано схемотехническое устройство на базе микроконтроллера STM-32 способное измерять вольт - амперные характеристики и удельную электропроводность образцов.

The thin films, methods for measuring the properties of thin films, development of a device based on the STM-32 microcontroller for removing volt - ampere characteristics, electrical resistivity of thin films thin films with certain characteristics. The literature on various semiconductor structures (films) was analyzed. Various contact and contactless methods for measuring film parameters are considered, from which the contact-dual-probe method was chosen. Next, a circuit device based on an STM-32 microcontroller was developed that is capable of measuring current-voltage characteristics and specific electrical conductivity of samples.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи (не СПбПУ)
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 51
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика