Детальная информация

Название Оценка толщины полимерного покрытия серебряных наночастиц методом отражательной эллипсометрии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур
Авторы Васильева Мария Владимировна
Научный руководитель Бабич Екатерина Сергеевна
Организация Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения Санкт-Петербург, 2019
Коллекция Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика cеребряные наночастицы; локализованный плазмонный резонанс; метод отражательной эллипсометрии; полимерные пленки полиамида – 6; silver nanoparticles; reflective ellipsometry technique; localized plasmon resonance; polyamide – 6 film
Тип документа Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла PDF
Язык Русский
Уровень высшего образования Бакалавриат
Код специальности ФГОС 03.03.02
Группа специальностей ФГОС 030000 - Физика и астрономия
Ссылки Отзыв руководителя; Рецензия; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2503
Права доступа Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи ru\spstu\vkr\3055
Дата создания записи 09.10.2019

Разрешенные действия

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

В работе представлены результаты исследований по оценке толщины полимерного покрытия серебряных наночастиц методом отражательной эллипсометрии. Был выбран полимер полиамид-6, выполняющий сразу несколько задач, в том числе защитную и фиксирующую функции. Отработаны режимы синтеза НЧ и нанесения полимерных пленок с нанометровыми толщинами. Изучена эллипсометрическая установка, включающая программное обеспечение «Spectroscan». В заключении продемонстрированы результаты использования различных моделей разбиения структуры на слои, введен критерий качества сходимости эллипсометрических кривых.

In this work it was shown the applicability of the reflective ellipsometry technique for characterization of an optically inhomogeneous polymer film with silver NPs. The results of the use of various models of splitting the structure into layers are demonstrated, and the quality criterion for convergence of ellipsometric curves is introduced.

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Анонимные пользователи

Количество обращений: 27 
За последние 30 дней: 0

Подробная статистика