Детальная информация
Название | Оценка толщины полимерного покрытия серебряных наночастиц методом отражательной эллипсометрии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур |
---|---|
Авторы | Васильева Мария Владимировна |
Научный руководитель | Бабич Екатерина Сергеевна |
Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2019 |
Коллекция | Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция |
Тематика | cеребряные наночастицы; локализованный плазмонный резонанс; метод отражательной эллипсометрии; полимерные пленки полиамида – 6; silver nanoparticles; reflective ellipsometry technique; localized plasmon resonance; polyamide – 6 film |
Тип документа | Выпускная квалификационная работа бакалавра |
Тип файла | |
Язык | Русский |
Уровень высшего образования | Бакалавриат |
Код специальности ФГОС | 03.03.02 |
Группа специальностей ФГОС | 030000 - Физика и астрономия |
Ссылки | Отзыв руководителя; Рецензия; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований |
DOI | 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2503 |
Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Ключ записи | ru\spstu\vkr\3055 |
Дата создания записи | 09.10.2019 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа | Анонимные пользователи |
---|---|
Сеть | Интернет |
В работе представлены результаты исследований по оценке толщины полимерного покрытия серебряных наночастиц методом отражательной эллипсометрии. Был выбран полимер полиамид-6, выполняющий сразу несколько задач, в том числе защитную и фиксирующую функции. Отработаны режимы синтеза НЧ и нанесения полимерных пленок с нанометровыми толщинами. Изучена эллипсометрическая установка, включающая программное обеспечение «Spectroscan». В заключении продемонстрированы результаты использования различных моделей разбиения структуры на слои, введен критерий качества сходимости эллипсометрических кривых.
In this work it was shown the applicability of the reflective ellipsometry technique for characterization of an optically inhomogeneous polymer film with silver NPs. The results of the use of various models of splitting the structure into layers are demonstrated, and the quality criterion for convergence of ellipsometric curves is introduced.
Место доступа | Группа пользователей | Действие |
---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 27
За последние 30 дней: 0