Заичка, Игорь Николаевич. Методы глубокого обучения при распознавании дефектов электронных компонентов мультиплат [Электронный ресурс]: выпускная квалификационная работа магистра по направлению 09.04.02 - Информационные системы и технологии ; 09.04.02_04 - Системный анализ и оптимизация информационных систем и технологий / И. Н. Заичка; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт компьютерных наук и технологий; науч. рук. Л. В. Черненькая. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 2,9 Мб). — Санкт-Петербург, 2019. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/vr19-2688.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2688>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2688-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2688-r.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2688-a.pdf>.