Детальная информация

Название: Исследование влияния криогенного плазмохимического травления на время жизни неосновных носителей заряда в кремнии: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур
Авторы: Реймерс Серафим Андреевич
Научный руководитель: Липовский Андрей Александрович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2019
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: криогенное плазмохимическое травление; солнечный элемент; фотолюминесценция; многопереходный солнечный элемент; травление; отжиг; кремний; эффективность солнечных элементов; время жизни носителей заряда; сryogenic ICP etching; solar element; photoluminescence; multi-junction solar element; etching; annealing; silicon; solar element efficiency; carrier lifetime
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Бакалавриат
Код специальности ФГОС: 03.03.02
Группа специальностей ФГОС: 030000 - Физика и астрономия
Ссылки: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3863
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: ru\spstu\vkr\3129

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В работе рассматривается одна из возможных методик производства многопреходных солнечных элементов — криогенное плазмохимическое травление. Производится оценка негативных последствий методики — кристаллических дефектов: глубины залегания и возможности устранения с помощью отжига. Для оценки качества образца (времени жизни неосновных носителей заряда) после произведённых манипуляций используется измерение времени спада фотолюминесценции по поверхности образца.

This work discusses one of possible methods for producing multi-junction solar cells — cryogenic ICP etching. The negative effects of the technique were evaluated — crystalline defects: depth and the possibility of elimination by annealing. To assess the quality of the sample (the lifetime of minority charge carriers) after the performed manipulations, the measurement of the photoluminescence decay time along the sample surface is used.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • РЕФЕРАТ
  • СОДЕРЖАНИЕ
  • ВВЕДЕНИЕ
  • ГЛАВА 1. АНАЛИЗ ЛИТЕРАТУРЫ
  • ГЛАВА 2. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
  • ГЛАВА 3. РЕЗУЛЬТАТЫ ЭКСПЕРИМЕНТА И ИХ АНАЛИЗ
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

Статистика использования

stat Количество обращений: 24
За последние 30 дней: 1
Подробная статистика