Детальная информация

Название: Исследование проводимости порфириновых пленок в сильных электрических полях: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Авторы: Бурэнтогтох Болормаа
Научный руководитель: Захарова Ирина Борисовна
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2019
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: порфирины; тонкие пленки; ВАХ; проводимость; ток; ограниченный пространственным зарядом; ловушки; porphyrin; thin films; ZnTPP; CuTPP; FeCLTPP; I-V characteristics; conductivity; current limited by a space charge; traps
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 11.03.04
Группа специальностей ФГОС: 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Ссылки: Отзыв руководителя; Рецензия; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-563
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Исследованы структура и проводимость тонких пленок органических полупроводников: металлопорфириновых комплексов MeTPP(Me=Zn, Cu, FeCl), и их нанокомпозитов с фуллереном C60, полученных методом вакуумного напыления в квазиравновесных условиях. Изучены вольт-амперные характеристики в сильных электрических полях напряженностью до 105-106 В/см. Показано, что ВАХ структур имеет сильно нелинейный характер и зависит от процесса формовки в сильном электрическом поле. Предложена модель, описывающая ВАХ формованных пленок механизмом тока, ограниченного пространственным зарядом с гауссовым распределением ловушек. Определена подвижность носителей, концентрация и энергетическое положение ловушек для MeTPP (Me=Zn, Cu). Показано наличие эффекта резистовного переключения.

The structure and conductivity of thin films of organic semiconductors: metal porphyrin complexes MeTPP (Me = Zn, Cu, FeCl), obtained by vacuum deposition under quasi-equilibrium conditions were investigated. Voltage-current characteristics in strong electrical filds up to 105-106 V/cm are studied. It is shown that the current – voltage characteristics of the structures are highly nonlinear and depend on the molding process in a strong electric field. A model is proposed that describes the current-voltage characteristics of the formed films by the mechanism of a current limited by a space charge with a Gaussian distribution of traps.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • РЕФЕРАТ
  • Содержание
  • Введение
  • Глава 1. Обзор литературы
  • 1.1. Порфирины, их свойства и строение молекул.
  • 1.2. Методы получения и структура тонких порфириновых пленок
  • 1.3. Механизмы проводимости в органических материалах
  • 1.4. Данные о проводимости порфириновых наноструктур
  • Глава2. Методики получения образцов и измерения
  • 2.1. Метод получения образцов
  • 2.2. Метод измерения ВАХ образцов
  • Глава 3. Результаты экспериментов и обсуждения
  • 3.1. Структура исследуемых тонких пленок
  • 3.2. Результаты измерения ВАХ тонких поликристаллических пленок
  • 3.2.1. Исследования ВАХ пленки ZnTPP
  • 3.2.2. Исследования ВАХ пленки CuTPP
  • 3.2.3. Исследования ВАХ пленки CuTPP+C60
  • 3.2.4. Исследования ВАХ пленки FeClTPP
  • 3.2.5. Исследования ВАХ пленки FeClTPP+C60
  • 3.3. Обработка результаты ВАХ
  • 3.3.1. Анализ пленки ZnTPP
  • 3.3.2. Анализ пленки CuTPP
  • Заключение
  • Список литературы

Статистика использования

stat Количество обращений: 33
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика