Детальная информация

Название: Химический анализ поверхности методами вторично-электронной спектроскопии: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_10 «Физическая и биомедицинская электроника»
Авторы: Чолокиди Маргарита Александровна
Научный руководитель: Устинов Александр Борисович; Павлов А.В., аспирант СПбПУ
Другие авторы: Давыдов Сергей Николаевич
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2020
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: спектроскопия; физика поверхности; углеродные пленки; СХПЭЭ; компьютерное моделирование; метод присоединённых плоских волн; spectroscopy; surface physics; carbon films; EELS; numerical simulation; DFT; PAW
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 16.03.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
Ссылки: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-3461
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Целью данной работы является исследование возможности сопровождения эксперимента по вторично-эмиссионной электронной спектроскопии компьютерным моделированием. В результате проделанной работы удалось построить численную модель, которая хорошо согласуется с экспериментальными данными исследования углеродных материалов методом спектроскопии характеристических потерь энергии.

In this work, the capabilities of numerical simulation to support the experiment in secondary electron emission spectroscopy are considered. Particularly, the working model for the electron energy loss spectroscopy of carbon films is proposed, showing a good agreement with experimental data.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи (не СПбПУ)
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • Введение
  • Химический анализ поверхности
    • Методы
    • Углеродные материалы, определение соотношения фаз
      • Рамановское рассеяние
      • Электронная спектроскопия
  • Спектроскопия потерь
  • Моделирование
    • Концепция
    • Проверка устойчивости метода
      • Псевдопотенциал
      • Размер вакансии
      • Сетка обратного пространства
      • Количество итераций
      • Размеры симуляции
      • Уширение спектральных линий
    • Сравнение с экспериментом
  • Заключение
  • Список использованных источников

Статистика использования

stat Количество обращений: 9
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика