Данная работа посвящена исследованию критических токов в ленточных высокотемпературных сверхпроводниках 2-го рода и разработке метода определение их распределения бесконтактным способом. Работа проведена на базе АО «НИИЭФА им. Д.В. Ефремова», в рамках разработки линейки сверхпроводящих материалов и сверхпроводникового оборудования для внутренних и внешних заказчиков. В процессе выполнения ВКР была изучена литература о взаимодействии ВТСП-2 с магнитным полем, в частности о модели критического состояния, или модели Бина. Разрабатывался метод бесконтактного определения распределения критических токов в ВТСП-2 на основе этой модели. Сконструирована и опробована установка для реализации данного метода. Создано и отлажено программное обеспечение в среде LabView компании National Instruments, позволяющее управлять электронными компонентами установки, собирать и обрабатывать полученную информацию. В результате были проведены тестовые испытания установки на реальных образцах лент ВТСП-2. Получены первые экспериментальные данные о поперечном профиле намагниченности лент ВТСП-2 во внешнем магнитном поле. Показано согласие экспериментальных данных с предсказаниями модели критического состояния.

The graduate qualification work is dedicated to the determination of the critical current distribution in second-generation high-temperature superconducting tapes in a non-contact way. This GQW concerns a study of critical currents in second-generation high-temperature superconducting tapes and the development of a method for determining their distribution. The work was executed on the facilities of “NIIEFA im. D.V. Efremova”, as a contribution to the development of a superconducting materials line and superconducting devices for internal and external customers. In the course of performing GQW publications were studied dealing with the HTSC-2 magnetic properties, in particular, the critical state model or the Bean model. Basing on this model, a non-contact method has been developed for determining the distribution of critical currents in HTSC-2.The installation has been designed and tested for the implementation of this method. An application in the frame of National Instruments’ LabView has been worked out and debugged, which allows managing the electronic components of the system, collecting and processing the acquired data. As a result, the system was tested on real samples of HTSC-2 tapes. The first experimental data were obtained on the transverse magnetization profile of HTSC-2 tapes in an external magnetic field. The agreement of the experimental data with the predictions of the critical state model has been shown.