Сверхпроводимость – в частности, высокотемпературная сверхпроводимость – перспективное направление исследований и разработок, продвижение в котором требует все более точных методов контроля получаемых на практике результатов. Цель данной работы заключается в улучшении методик измерений и модернизации устройства определения критической температуры и ширины сверхпроводящего перехода образцов лент высокотемпературных сверхпроводников второго рода, выпускаемых в АО «НИИЭФА». В ходе работы на базе имеющегося оборудования была представлена новая версия устройства, основным отличием которой является использование микроконтроллеров с аналого-цифровыми преобразователями, напрямую подключенных к управляющему компьютеру. Также было разработано программное обеспечение для микроконтроллеров и персональных компьютеров, среди прочего полностью убравшее необходимость в ручной обработке данных. Нововведения позволили существенно сократить время, затрачиваемое на анализ данных, повысить точность получаемых результатов и увеличить степень контроля за ходом измерений в реальном времени, открывая возможности для дальнейших модификаций методики.

Superconductivity – high-temperature superconductivity in particular – is quite perspective route of Research and Development, advancements in which require more and more precise methods of monitoring obtained practical results. The purpose of this work is an improvement of measurement procedures and modernization of device for determining critical temperature and transition width of high-temperature type-II superconductor tapes manufactured in JSC «NIIEFA». In the course of practical work, a new version of the device was introduced, key new feature of which is utilization of microcontrollers with analog-to-digital converters, directly connected with control PC. A special software for microcontrollers and PCs was also implemented – which, among other features, completely removed the need for manual data processing. These innovations significantly reduced time that is spent for data analysis, increased accuracy of results and level of control over measurement process in real time, opening up opportunities for further methodological improvements.