Никитин, Михаил Игоревич. Сравнительный анализ методов измерения статических параметров интегральных схем на испытательных стендах ИИЭ.ИМЭ-3 и КВК.ДИЦ: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 11.03.02 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» ; образовательная программа 11.03.02_04 «Защищенные системы и сети связи» = Comparative analysis of methods for measuring the static parameters of integrated circuits on test benches IIE.IME-3 and KVK.DITS / М. И. Никитин; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций; научный руководитель А. В. Медведев. — Санкт-Петербург, 2020. — 1 файл (1,6 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2020/vr/vr20-45.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2020/vr/vr20-45. — Текст: электронный