Данная работа посвящена разработке и освоению новой методики исследования границ в высокопрочной стали. В теоретической части работы описано строение и термодинамика границ зёрен, проанализированы существующие методы исследования и выявления границ. Проведён анализ каждого из методов в контексте физических и химических основ, получаемой информации, преимуществ и недостатков. Проанализирована возможность их использования для достижения поставленной в работе цели. В исследовательской части работы определена, описана и обоснована методика исследования структур, приведено описание используемых в исследовании материалов и оборудования, определены параметры для получения необходимой структуры. В результате исследования структуры получены и обработаны данные о размере зёрен и анизотропии бейнита. Сравнение выявленных структур показало, что метод ионного травления может быть успешно применён для анализа структур. Установлено, что используемая в работе установка ионного травления не обеспечивает монохромности ионного луча, вследствие чего одновременно выявляются дефекты с разной энергией. Решение этой проблемы возможно с использованием ионного микроскопа.

This work is devoted to the development and training of a new technique for studying grain boundaries in high-strength steels. In the theoretical part of the work, the structure and thermodynamics of grain boundaries are described, existing methods of investigation and identification of boundaries are analyzed. The analysis of each of the methods is carried out in the context of physical and chemical bases, the information received, advantages and disadvantages. The possibility of their use to achieve the goal set in the work is analyzed. In the research part of the work, the methodology of the structures research is defined, described and justified, the description of the materials and equipment is given, parameters for obtaining the necessary structure are determined. As a result of the structure research, data on the grain size and bainite anisotropy were obtained and processed. A comparison between detected structures showed that ion etching can be used successfully for structure analysis.It is established that the ion etching system used in the work does not provide ion beam monochromacy, as a result of which defects with different energies are detected simultaneously. The solution to this problem is possible by using an ion microscope.