Объект исследования – АЦП последовательного приближения.Предмет исследования – статические характеристики АЦП.Цель работы – разработка программно-аппаратного комплекса для измерения статических характеристик АЦП.Данная работа посвящена измерению статических характеристик АЦП, которые являются важной информацией как для валидации работы готовой микросхемы, использующей данный IP-блок, так и для разработки её принципиальной схемы и топологии. Для достижения цели работы в ходе выпускной квалификационной работы был разработан программно-аппаратный комплекс из ПК, ППМС и источника аналогового сигнала, позволяющий снимать и анализировать статические характеристики АЦП.

The subject of the graduate qualification work is “Automated system for ADC parameters measurement”.The given work is devoted to measuring the static parameters of ADC, which are important information both for validation of a finished microchip that uses this IP block, and for developing its circuitry and topology. To achieve the goal of the work in the course of graduate qualification work, a software-hardware complex was developed from a PC, FPGA and an analog signal source, which allows you to measure and analyze the static characteristics of the ADC.

• ОПРЕДЕЛЕНИЯ, ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ
• ВВЕДЕНИЕ
• 1 Обзор литературы по теме работы
  • 1.1 Аналогово-цифровые преобразователи
    • 1.1.1 История задачи аналого-цифрового преобразования
    • 1.1.2 Общие понятия аналогово-цифрового преобразования
    • 1.1.3 Основные характеристики АЦП
    • 1.1.4 Виды АЦП
    • 1.1.5 Способ измерения статических параметров АЦП
  • 1.2 Процесс тестирования интегральных схем
    • 1.2.1 Причина появления JTAG-интерфейса
    • 1.2.2 Граничное сканирование
    • 1.2.3 Основы JTAG-интерфейса
  • 1.3 Программируемые логические интегральные схемы
    • 1.3.1 Общие сведения о ППМС
    • 1.3.2 Основы работы ППМС
    • 1.3.3 Язык описания
    • 1.3.4 Конечный автомат
  • 1.4 Формирование цели и задач работы
• 2 Разработка программно-аппаратного комплекса
  • 2.1 Общее описание структуры программно-аппаратного комплекса
  • 2.2 Разработка цифровой схемы управления на VHDL
    • 2.2.1 Разработка модуля для связи ПЛИС с АЦП по интерфейсу JTAG
    • 2.2.2 Разработка модуля для связи ПЛИС с ПК по интерфейсу RS-232
  • 2.3 Разработка программной части на LabVIEW
    • 2.3.1 Разработка модуля связи с ПЛИС
    • 2.3.2 Разработка модуля управления источником входного напряжения АЦП
    • 2.3.3 Разработка алгоритма обработки данных
  • 2.4 Разработка платы для измерительного стенда комплекса
    • 2.4.1 Описание главной платы измерительного стенда
    • 2.4.2 Описание плат подключаемых модулей
• ЗАКЛЮЧЕНИЕ
• СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
• ПРИЛОЖЕНИЕ А.
• Описание блока верхнего уровня прошивки ПЛИС
• ПРИЛОЖЕНИЕ Б.
• Блок-схема алгоритма проведения теста
• ПРИЛОЖЕНИЕ В.
• Блок-диаграмма программы для проведения теста на LabVIEW
• ПРИЛОЖЕНИЕ Г.
• Схема изоляции на главной плате измерительного стенда
• ПРИЛОЖЕНИЕ Д.
• Схема питания приборов на главной плате измерительного стенда
• ПРИЛОЖЕНИЕ Е.
• Схема платы модуля ЦАП