Детальная информация

Объект исследования – АЦП последовательного приближения.Предмет исследования – статические характеристики АЦП.Цель работы – разработка программно-аппаратного комплекса для измерения статических характеристик АЦП.Данная работа посвящена измерению статических характеристик АЦП, которые являются важной информацией как для валидации работы готовой микросхемы, использующей данный IP-блок, так и для разработки её принципиальной схемы и топологии. Для достижения цели работы в ходе выпускной квалификационной работы был разработан программно-аппаратный комплекс из ПК, ППМС и источника аналогового сигнала, позволяющий снимать и анализировать статические характеристики АЦП.

The subject of the graduate qualification work is “Automated system for ADC parameters measurement”.The given work is devoted to measuring the static parameters of ADC, which are important information both for validation of a finished microchip that uses this IP block, and for developing its circuitry and topology. To achieve the goal of the work in the course of graduate qualification work, a software-hardware complex was developed from a PC, FPGA and an analog signal source, which allows you to measure and analyze the static characteristics of the ADC.