Детальная информация

Название: Автоматизированная система для определения параметров аналого-цифровых преобразователей: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника» ; образовательная программа 11.03.04_03 «Интегральная электроника и наноэлектроника»
Авторы: Колбенков Павел Петрович
Научный руководитель: Румянцев Иван Александрович
Другие авторы: Поляков Д. А.
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2022
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: VHDL; программируемая пользователем микросхема; аналогово-цифровые преобразователи; LabVIEW; PXI; статические характеристики; field-programmable gate array; analog-to-digital converter; static parameters
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Бакалавриат
Код специальности ФГОС: 11.03.04
Группа специальностей ФГОС: 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2022/vr/vr22-865
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Дополнительно: Новинка
Ключ записи: ru\spstu\vkr\16962

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Объект исследования – АЦП последовательного приближения.Предмет исследования – статические характеристики АЦП.Цель работы – разработка программно-аппаратного комплекса для измерения статических характеристик АЦП.Данная работа посвящена измерению статических характеристик АЦП, которые являются важной информацией как для валидации работы готовой микросхемы, использующей данный IP-блок, так и для разработки её принципиальной схемы и топологии. Для достижения цели работы в ходе выпускной квалификационной работы был разработан программно-аппаратный комплекс из ПК, ППМС и источника аналогового сигнала, позволяющий снимать и анализировать статические характеристики АЦП.

The subject of the graduate qualification work is “Automated system for ADC parameters measurement”.The given work is devoted to measuring the static parameters of ADC, which are important information both for validation of a finished microchip that uses this IP block, and for developing its circuitry and topology. To achieve the goal of the work in the course of graduate qualification work, a software-hardware complex was developed from a PC, FPGA and an analog signal source, which allows you to measure and analyze the static characteristics of the ADC.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать
Внешние организации №2 Все Прочитать
Внешние организации №1 Все
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать
Интернет Авторизованные пользователи (не СПбПУ, №2) Прочитать
Интернет Авторизованные пользователи (не СПбПУ, №1)
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • ОПРЕДЕЛЕНИЯ, ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ
  • ВВЕДЕНИЕ
  • 1 Обзор литературы по теме работы
    • 1.1 Аналогово-цифровые преобразователи
      • 1.1.1 История задачи аналого-цифрового преобразования
      • 1.1.2 Общие понятия аналогово-цифрового преобразования
      • 1.1.3 Основные характеристики АЦП
      • 1.1.4 Виды АЦП
      • 1.1.5 Способ измерения статических параметров АЦП
    • 1.2 Процесс тестирования интегральных схем
      • 1.2.1 Причина появления JTAG-интерфейса
      • 1.2.2 Граничное сканирование
      • 1.2.3 Основы JTAG-интерфейса
    • 1.3 Программируемые логические интегральные схемы
      • 1.3.1 Общие сведения о ППМС
      • 1.3.2 Основы работы ППМС
      • 1.3.3 Язык описания
      • 1.3.4 Конечный автомат
    • 1.4 Формирование цели и задач работы
  • 2 Разработка программно-аппаратного комплекса
    • 2.1 Общее описание структуры программно-аппаратного комплекса
    • 2.2 Разработка цифровой схемы управления на VHDL
      • 2.2.1 Разработка модуля для связи ПЛИС с АЦП по интерфейсу JTAG
      • 2.2.2 Разработка модуля для связи ПЛИС с ПК по интерфейсу RS-232
    • 2.3 Разработка программной части на LabVIEW
      • 2.3.1 Разработка модуля связи с ПЛИС
      • 2.3.2 Разработка модуля управления источником входного напряжения АЦП
      • 2.3.3 Разработка алгоритма обработки данных
    • 2.4 Разработка платы для измерительного стенда комплекса
      • 2.4.1 Описание главной платы измерительного стенда
      • 2.4.2 Описание плат подключаемых модулей
  • ЗАКЛЮЧЕНИЕ
  • СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
  • ПРИЛОЖЕНИЕ А.
  • Описание блока верхнего уровня прошивки ПЛИС
  • ПРИЛОЖЕНИЕ Б.
  • Блок-схема алгоритма проведения теста
  • ПРИЛОЖЕНИЕ В.
  • Блок-диаграмма программы для проведения теста на LabVIEW
  • ПРИЛОЖЕНИЕ Г.
  • Схема изоляции на главной плате измерительного стенда
  • ПРИЛОЖЕНИЕ Д.
  • Схема питания приборов на главной плате измерительного стенда
  • ПРИЛОЖЕНИЕ Е.
  • Схема платы модуля ЦАП

Статистика использования

stat Количество обращений: 0
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика