Направление исследования было выбрано на основе проведенного анализа литературных источников, связанных с данной темой. Разработана методика изготовления аморфных образцов полиэфирэфиркетона в два этапа Температурные режимы изготовления образцов были выбраны с помощью дифференциальной сканирующей калориметрии. С использованием метода ИК-Фурье спектроскопии и испытаний на растяжение было показано, что в процессе горячего прессования не происходит термической деструкции полимера. В процессе работы было произведено сопоставление методик определения кристалличности ПЭЭК и представлены соответствующие графики. Была определена энергия активации кристаллизации ПЭЭК. Была исследована кинетика кристаллизации ПЭЭК. Помимо изучения кристаллизации полимерных образцов ПЭЭК также была исследована кристаллизация ПЭЭК при производстве ПКМ. Кроме того, было изучено влияние степени кристалличности ПЭЭК на механические свойства ПКМ. Надмолекулярная структура полимера была исследована методом сканирующей электронной микроскопии.

The direction of the research was chosen on the basis of the analysis of literature sources related to this topic. A technique for preparing amorphous polyetheretherketone samples in two stages has been developed. The temperature regimes for preparing the samples were selected using differential scanning calorimetry. Using FT-IR spectroscopy and tensile tests, it was shown that no thermal degradation of the polymer occurs during hot pressing. In the course of the work, a comparison of methods for determining the crystallinity of PEEK was made and the corresponding graphs were presented. The activation energy of PEEK crystallization was determined. The PEEK crystallization kinetics was investigated. In addition to studying the crystallization of PEEK polymer samples, the crystallization of PEEK during the production of PCM was also studied. In addition, the influence of the degree of crystallinity of PEEK on the mechanical properties of PCM was studied. The supramolecular structure of the polymer was studied by scanning electron microscopy.