Возмищев, Станислав Дмитриевич. Методика проведения испытаний микромеханических акселерометров в составе пластины для выявления технологических дефектов: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника» ; образовательная программа 11.03.04_03 «Интегральная электроника и наноэлектроника» = Technique for detecting technological defects of micromechanical accelerometers on a plate based on measuring the hysteresis of the capacitance–voltage characteristic / С. Д. Возмищев; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт электроники и телекоммуникаций; научный руководитель Е. В. Балашов. — Санкт-Петербург, 2024. — 1 файл (2,5 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2024/vr/vr24-5263.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/3/2024/vr/vr24-5263. — Текст: электронный
Период
|
Чтение
|
Печать
|
Копирование
|
Открытие
|
Итого
|
Год 2024
|
Квартал 3
|
Август
|
1
|
0
|
0
|
0
|
1
|
Сентябрь
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
Всего
|
1
|
0
|
0
|
0
|
1
|