?

Детальная информация
Таблица Карточка RUSMARC
Название: Сканирующая туннельная микроскопия и атомарно-силовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: учебное пособие. — Частично дополнено и переработано
Авторы: Рыков Сергей Александрович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2022
Коллекция: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Тематика: Микроскопия; Полупроводники; Наноструктурные материалы; Графены; сканирующие туннельные микроскопы; атомарно-силовые микроскопы; учебники и пособия для вузов
УДК: 681.723(075.8); 621.315.592(075.8); 620.3(075.8); 549.21(075.8)
Тип документа: Учебник
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 16.03.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI: 10.18720/SPBPU/5/tr22-64
Права доступа: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\68101

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (7,1 Мб)

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В учебном пособии на примерах сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомарно-силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы сканирующей зондовой микроскопии. Изложены физические основы их действия, описаны современные конструкции СТМ и АСМ. Рассматривается результаты их практического применения к исследованию и диагностике полупроводниковых материалов и наноструктур.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Оглавление

  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • Введение
  • Глава 1. Сканирующая туннельная микроскопия и локальнаятуннельная спектроскопия
    • 1.1. Физические основы туннелирования
    • 1.2. Принцмп работы СТМ
    • 1.3. Конструкции современных СТМ
    • 1.4. СТМ исследование топографии поверхностиполупроводников
    • 1.5. СТМ/ЛТС исследование полупроводниковыхматериалов и структур
    • 1.6. СТМ/ЛТС исследование графена намикроструктурированной подложке
  • Глава 2. Атомарно-силовой микроскоп
    • 1.1. Принцип действия АСМ
    • 1.2. Применение АСМ для исследования полупроводниковых материалов и наноструктур
  • Заключение
  • Список использованной литературы

Статистика использования

stat Количество обращений: 3145
За последние 30 дней: 221
Подробная статистика