Details
| Title | Характеризация объемных и тонкопленочных материалов с использованием дифрактометрической системы SuperNova: учебное пособие |
|---|---|
| Creators | Ганжа Александр Евгеньевич ; Удовенко Станислав Александрович ; Вакуленко Александр Феликсович ; Князева Мария Александровна ; Бурковский Роман Георгиевич |
| Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого |
| Imprint | Санкт-Петербург, 2022 |
| Collection | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Subjects | Дифракция ; Рентгеноструктурный анализ ; Кристаллы ; Пленки |
| UDC | 539.26(075.8) |
| Document type | Tutorial |
| Language | Russian |
| Speciality code (FGOS) | 16.03.01 |
| Speciality group (FGOS) | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| DOI | 10.18720/SPBPU/5/tr22-85 |
| Rights | Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\68194 |
| Record create date | 4/25/2022 |
В пособии приведены основные формулы кинематической теории рентгеновской дифракции, объяснена основная графическая схема для определения условий отражения излучения от кристаллов, описана дифрактометрическая система SuperNova и подходы к работе с ней при помощи стандартного программного обеспечения. Изложены методические наработки по применению установки для характеризации объемных и тонкопленочных образцов. Уделено внимание нестандартным техническим средствам и подходам, при помощи которых удается расширить спектр решаемых задач по сравнению с теми, на которые ориентируется производитель таких систем. Учебное пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи рентгеновских методов. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курса «Экспериментальные методы исследования» студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | All |
|
- Содержание
- Введение
- 1.Основы дифракции
- 1.1 Краткое объяснение терминов
- 1.2 Обратная решетка
- 1.3 Условие Лауэ
- 1.4 Построение Эвальда
- 1.5 Уравнение Вульфа-Брэгга
- 2. Постановка дифракционных экспериментов на оборудовании SuperNova и обработка экспериментальных данных
- 2.1 Общие сведения о дифракционной системе SuperNova
- 2.2 Элементы интерфейса и управления в CrysAlisPro
- 2.3 Запуск эксперимента в CrysAlisPro
- 2.4 Выбор оптимальных параметров
- 2.5 Многотемпературный эксперимент
- 2.6 Базовая обработка эксперимента в CrysAlisPro
- 3.Практические аспекты постановки экспериментов
- 3.1 Подготовка образца к эксперименту
- 3.2 Юстировка тонких пленок в дифрактометре и параметрыэксперимента для них
- 3.3 Нестандартные устройства для расширения возможностеймноготемпературных экспериментов. Обмен данными междутермоконтроллером и CrysAlisPro
- 3.4 Кадровая синхронизация
- 3.5 Подходы к восстановлению и анализу распределенийинтенсивности в обратном пространстве
- Заключение
- Литература
Access count: 727
Last 30 days: 6
