Детальная информация

Соответствует требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего профессионального образования по направлениям подготовки бакалавров 16.03.01 – «Техническая физика». В пособии собраны сведения о пяти направлениях исследований в области физической электроники: исследовании рельефа и свойств поверхностей методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), постановке голографического эксперимента, моделировании ионно-оптических систем и изучении твердых тел с помощью дифракции медленных электронов. Помимо теоретических сведений в каждом разделе пособия представлены примеры оборудования и программного обеспечения, используемых для выполнения научной работы. В конце каждого раздела приведены методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу «Экспериментальные методы исследований», предназначенных для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям «Техническая физика», а также по другим направлениям, в учебных планах которых предусмотрено изучение твердых тел при помощи сканирующих методик, рентгеновских методов, масс-спектрометрического анализа, а также методов, использующих явление голографии. Материалы учебного пособия могут быть использованы при изучении курсов «Экспериментальные методы исследования» и выполнении лабораторных работ студентами старших курсов, а также аспирантами и научными работниками при выполнении научно-исследовательских работ.

• Оглавление
• Введение
• 1. Метод атомно-силовой микроскопии
  • 1.1 Общие принципы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)
  • 1.2 Атомно-силоваямикроскопия
  • 1.3 Искажения (артефакты) изображений, получаемых методом АСМ
  • 1.4 Методические указания к выполнению лабораторной работы «Атомно-силовая микроскопия»
• 2. Метод сканирующей туннельной микроскопии
  • 2.1 Введение
  • 2.2 Схема работы микроскопа СТМ
  • 2.3 Зонды СТМ
  • 2.4 СТМ-исследование локальной работы выхода
  • 2.5 СТМ-измерения распределения плотности электронных состояний
  • 2.6 Методические указания к выполнению лабораторной работы «Сканирующая туннельная микроскопия»
• 3. Голографический эксперимент. Изучение свойств голографическихизображений
  • 3.1 Введение
  • 3.2 Голографическая установка
  • 3.3 Оборудование и химические реактивы для обработки фотопластинок
  • 3.4 Приборы для освещения голограмм и изучения свойств восстановленного изображения
  • 3.5. Методические указания к выполнению лабораторной работы «Съемка голограмм в голографической камере»
• 4. Моделирование ионно-оптической системы (ИОС)
  • 4.1 Описание ИОС
  • 4.2 Методические указания к выполнению лабораторной работы «Моделирование ионно-оптической системы»
• 5. Основные представления о методе ДМЭ
  • 5.1 Введение
  • 5.2 Общие положения
  • 5.3 Двумерная обратная решетка н построение Эвальда
  • 5.4 Дифракция медленных электронов на трехмерной решетке
  • 5.5 Дифракционная картина в условиях ограниченного объема
  • 5.6 Конструкция н параметры низковольтного электронографа
  • 5.7 Методические указания по выполнениюлабораторной работы «Дифракция медленных электронов»
• Библиографический список