В данной работе предложена методика расчета краевых эффектов в полях, реализуемых с помощью электродов со щелью, но при этом сохраняющих однородность по Эйлеру для реализации спектрографического режима. Разработана программа для численного моделирования и расчета экранирования краевого поля на границах электродов осесимметричных полей, а также влияния выходного отверстия на спектр. Проведен сравнительный анализ искаженных полей и ихидеальных прототипов.