В работе экспериментально доказано существование эффекта электроформовки в поликристаллических пленках С60 субмикронной толщины. Показано, что определяющим вкладом в процессы накопления объемного заряда является электронная инжекция. Оценена концентрация электронных ловушечных состояний и их глубина. Обнаружены и объяснены причины значительного возрастания емкости на низких частотах. Дана оценка вклада интеркалированного кислорода в перенос заряда и дипольного момента молекулярной группы. Объяснено аномальное возрастание диэлектрической проницаемости в сильных электрических полях.

The existence of the effect of electroforming in polycrystalline C60 films of submicron thickness has been experimentally proved in this work. It is shown that the decisive contribution to the processes of space charge accumulation is electron injection. The concentration of electron trap states and their depth are estimated. Reasons for a significant increase in capacitance at low frequencies are found and explained. The contribution of intercalated oxygen to the charge transfer and dipole moment of the molecular group is estimated. The anomalous increase in the permittivity in strong electric fields is explained.