Детальная информация

Название: Влияние тока инжекции и объемного заряда на диэлектрические свойства поликристаллических пленок фуллерита С60: научный доклад: направление подготовки 03.06.01 «Физика и астрономия» ; направленность 03.06.01_04 «Физическая электроника»
Авторы: Долженко Дмитрий Игоревич
Научный руководитель: Сударь Николай Тобисович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2022
Коллекция: Научные работы аспирантов/докторантов; Общая коллекция
Тематика: Диэлектрические пленки; Фуллерены; пленки фуллерита; модель вагнера-купса; модель зерно-прослойка; интеркаляция кислорода; электроформовка; аномальное возрастание емкости; fullerite films; wagner-koops model; grain-layer model; oxygen intercalation; electroforming; capacitance anomalous increase
УДК: 621.315.617
Тип документа: Научный доклад
Тип файла: Другой
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Аспирантура
Код специальности ФГОС: 03.06.01
Группа специальностей ФГОС: 030000 - Физика и астрономия
Права доступа: Текст не доступен в соответствии с распоряжением СПбПУ от 11.04.2018 № 141
Дополнительно: Новинка
Ключ записи: ru\spstu\vkr\17965

Аннотация

В работе экспериментально доказано существование эффекта электроформовки в поликристаллических пленках С60 субмикронной толщины. Показано, что определяющим вкладом в процессы накопления объемного заряда является электронная инжекция. Оценена концентрация электронных ловушечных состояний и их глубина. Обнаружены и объяснены причины значительного возрастания емкости на низких частотах. Дана оценка вклада интеркалированного кислорода в перенос заряда и дипольного момента молекулярной группы. Объяснено аномальное возрастание диэлектрической проницаемости в сильных электрических полях.

The existence of the effect of electroforming in polycrystalline C60 films of submicron thickness has been experimentally proved in this work. It is shown that the decisive contribution to the processes of space charge accumulation is electron injection. The concentration of electron trap states and their depth are estimated. Reasons for a significant increase in capacitance at low frequencies are found and explained. The contribution of intercalated oxygen to the charge transfer and dipole moment of the molecular group is estimated. The anomalous increase in the permittivity in strong electric fields is explained.