Детальная информация

Название: Эмиссионные и фотоэлектрические свойства наноструктурированных углеродных пленок: научный доклад: направление подготовки 03.06.01 «Физика и астрономия» ; направленность 03.06.01_04 «Физическая электроника»
Авторы: Журкин Алексей Михайлович
Научный руководитель: Архипов Александр Викторович
Другие авторы: Краснова Надежда Константиновна
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2020
Коллекция: Научные работы аспирантов/докторантов; Общая коллекция
Тематика: Фотопроводимость; Пленки тонкие; Автоэлектронная эмиссия; углеродные квантовые точки; низкопороговая полевая эмиссия электронов; электронная структура; туннельная спектроскопия; СТМ; АСМ; фотоэлектрические свойства; carbon quantum dots; low-threshold field emission of electrons; electronic structure; tunneling spectroscopy; STM; AFM; photoelectric properties
УДК: 537.533.2; 539.23
Тип документа: Научный доклад
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Аспирантура
Код специальности ФГОС: 03.06.01
Группа специальностей ФГОС: 030000 - Физика и астрономия
DOI: 10.18720/SPBPU/6/2020/vn20-14
Права доступа: Текст не доступен в соответствии с распоряжением СПбПУ от 11.04.2018 № 141
Ключ записи: ru\spstu\vkr\9426

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,4 Мб)

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В данной работе исследован механизм явления низковольтной "холодной" полевой эмиссии электронов тонкими углеродными пленками, наиболее ярко проявляющегося для пленок на кремниевых подложках со слоем естественного окисла, а также установление закономерностей фотоэлектрических явлений. Теоретически определена локальная электронная структура различных участков тонких углеродных пленок на кремнии.

In this work, the mechanism of the phenomenon of low-voltage "cold" field emission of electrons by thin carbon films, which is most pronounced for films on silicon substrates with a layer of natural oxide, is investigated, as well as the establishment of regularities of photoelectric phenomena. The local electronic structure of various regions of thin carbon films on silicon has been determined theoretically.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования

stat Количество обращений: 29
За последние 30 дней: 7
Подробная статистика